Juan Alfredo Guevara Carrió



  Pesquisa

Cristalografia, Difração de Raios X e Nêutrons
Método de Rietveld em materiais cerâmicos e metálicos

  Resumo da Formação

Graduação: Física, Technische Universität Dresden, Alemanha
MSc. Física, Technische Universität Dresden, Alemanha
Doutorado: Física, IFSC - USP, Brasil
Pós-Doutorado: Física, IFSC - USP, Brasil